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Caracterización Eléctrica de Dispositivos Semiconductores. Equipo KEITHLEY, Modelo 4200- SCS. Mediciones en DC de características I-V, C-V, en modo de Pulsos y mediciones Ultra-rápidas. Para investigación en nanotecnología MEMs, MOSFET, BJT y III-V, dispositivos orgánicos electrónicos, celdas solares.
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