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Caracterización Óptica de Semiconductores. Se observa un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para el análisis de superficies; es un equipo de la marca QUESANT, modelo 250. Aplicaciones: Se pueden obtener imágenes usando el modo de contacto y el modo de contacto intermitente. Se observa un espctrofotómetro para análisis FTIR marca Nexus 470. Los instrumentos se están utilizando en un proyecto de investigación para desarrollo de dispositivos termoeléctricos con óxidos semiconductores compuestos, y un espectrómetros para la caracterización óptica de películas de óxidos de metálicos y de materiales compuestos.
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